- 質(zhì)量與環(huán)境
- Quality and Environment
| ? | 蘇州固锝電子股份有限公司集團實(shí)驗室擁有國內一流的功率分立器件及特色IC產(chǎn)品的可靠性及失效分析實(shí)驗設施，設備，實(shí)驗室項目參考JEDEC相關(guān)標準。 |
| ? | 主要有可靠性實(shí)驗和失效分析實(shí)驗兩塊主要業(yè)務(wù)。實(shí)驗室在2025年1月通過(guò)CNAS的認證，CNAS22280。 |
實(shí)驗室對外承接可靠性試驗項目：
? 溫濕度試驗（HTSL/PCT/UHAST/THT/TC/TS）
? 老化試驗（HTRB/HTGB/H3TRB/IOL/HAST）
? 封裝體完整性測試(RSH/SD/MSL)
? 產(chǎn)品特性參數測試(ESD/Surge/Thermal Resistance)
具體測試項目及條件:
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NO. |
Stress |
ABV |
Reference |
Test Condition |
Capability |
|---|---|---|---|---|---|
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1 |
Pre-conditioning |
PC |
JESD22A-113 |
only for SMD product H3TRB, HAST, UHAST, AC, IOL,TC and RSH test items. |
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2 |
High Temperature Reverse Bias |
HTRB |
JESD22A-108 |
TJ:MAX, 100%VR;Interim readout @168HR,@500HR, final @1000HR; |
Temp: RT~200℃; Voltage:0~2000V; |
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3 |
High Temperature Gate Bias |
HTGB |
JESD22A-108 |
TJ:MAX, 100%VGS;Interim readout @168HR,@500HR, final @1000HR; |
Temp: RT~200℃；Voltage:0~100V; |
|
4 |
High Humidity High Temp. Reverse Bias |
H3TRB |
JESD22A-101 |
85°C, 85%RH, 80%VR;Interim readout @168HR,@500HR, final @1000HR; |
Temp&Humidity: 85℃,85%；Voltage:0~1000V; |
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5 |
Temperature Cycling |
TCT |
JESD22A-104 |
-55°C to 150°C, dwell time >=10min;Interim readout @168 cycles,@500 cycles, final @1000 cycles; |
Temp: -70℃~200℃； |
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6 |
Autoclave |
AC |
JESD22A-102 |
121°C, 100%RH, 15psig;Final readout @96HR |
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7 |
Intermittent Operational Life |
IOL |
MIL-STD-750-1037 |
Ta=25°C,2on 2off,?TJ ≥ 100°C;Interim readout @2520 cycles,@7500 cycles, final @15000 cycles; |
Current: 0~16A |
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8 |
Resistance to Solder Heat |
RSH |
JEDEC JESD22-A- |
260°C/10S |
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9 |
Solderability |
SD |
J-STD-002 |
245°C/5S S≥95% |
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10 |
Electrostatic Discharge Testing-Human Body Model |
ESD-HBM |
AEC-Q101-001 |
R=1500Ω,C=100PF |
Voltage: 0~8KV |
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11 |
Destructive Physical Analysis |
DPA |
AEC-Q101-004 |
H3TRB or HAST, and TCT |
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12 |
Forward Surge Test |
FS |
MIL-STD-750-4066 |
T:8.3MS |
Current: 0~1KA |
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13 |
Thermal Shock |
TS |
JESD22A106B |
-65°C ~ 150°C |
Temp: -70℃~200℃ |
或按照顧客特定要求，如Double AECQ101等.
失效分析實(shí)驗室：
? 開(kāi)封
? 取晶粒
? 紅墨水試驗
? X射線(xiàn)透視
? 探針測試
? 高倍顯微鏡拍照
? 背面研磨
? 橫截面切片
聯(lián)系電話(huà)：17751114968
郵箱：Labservice@goodark.com
地址：蘇州市虎丘區通安鎮真北路100號
